Kurikulum 2024

Kode Mata KuliahFI3222 / 2 SKS
Penyelenggara102 - Fisika / FMIPA
KategoriKuliah
Bahasa IndonesiaEnglish
Nama Mata KuliahTeknik Karakterisasi MaterialMaterial Characterizations
Bahan Kajian
  1. Pendahuluan teknik karakterisasi morfologi, sifat fisis, optik, kimiawi serta karakteristik elemental
  2. Prinsip mikroskopi/imaging dengan mikroskop elektron yaitu Scanning Electron Microscope (SEM) dan Transmission Electron Microscope (TEM)
  3. Prinsip imaging dari Atomic Force Microscopy (AFM)
  4. Prinsip hamburan dan difraksi dengan X-Ray dan Neutron serta analisisnya
  5. Prinsip spektroskopi vibrasi dengan Fourier Transform Infrared (FTIR) dan Raman
  6. Prinsip spektroskopi elemental dengan Energi Dispersive X-ray spektroskopi (EDS)
  7. Persiapan material dan proses pengambilan data serta analisis data yang diperoleh dari hasil karakterisasi baik itu dengan teknik mikroskopi, teknik hamburan ataupun dengan teknik spektroskopi
  1. Introduction to morphological characterization techniques, physical, optical, chemical properties and elemental characteristics
  2. Principles of microscopy/imaging with an electron microscope, namely Scanning Electron Microscope (SEM) and Transmission Electron Microscope (TEM)
  3. Imaging principles of Atomic Force Microscopy (AFM)
  4. Principles of scattering and diffraction with X-Ray and Neutrons and their analysis
  5. Principles of vibrational spectroscopy with Fourier Transform Infrared (FTIR) and Raman
  6. Principles of elemental spectroscopy with Energy Dispersive X-ray spectroscopy (EDS)
  7. Material preparation and data collection process as well as analysis of data obtained from characterization results, whether using microscopy techniques, scattering techniques or spectroscopy techniques
Capaian Pembelajaran Mata Kuliah (CPMK)
  1. Memahami teknik pengukuran morfologi, sifat fisis, optik, kimiawi serta karakteristik elemental dari material secara umum
  2. Memahami prinsip mikroskopi/imaging dengan SEM,TEM dan AFM dari material
  3. Memahami prinnsip hamburan dan difraksi dari material dengan X-Ray dan Neutron
  4. Memahami prinsip spektroskopi optik dengan UV-Vis dan SPR untuk material dalam bentuk larutan ataupun film tipis
  5. Memahami prinsip spektroskopi vibrasi dari struktur molekul yang menyusun material dengan menggunakan sumber Infrared dan Raman
  6. Memahami prinsip spektroskopi elemental XPS dan XAS
  7. Memahami dan dapat melakukan persiapan material serta melakukan pengukuran secara mandiri terhadap alat ukur yang telah dipelajari
  8. Dapat memanfaatkan secara benar dan tepat dalam teknik karakterisasi material untuk aplikasi dibidang divais optoelektronik ataupun magnetik
  1. Understand the techniques for measuring morphology, physical, optical, chemical properties and elemental characteristics of materials in general
  2. Understand the principles of microscopy/imaging with SEM, TEM and AFM of materials
  3. Understand the principles of scattering and diffraction from materials using X-Ray and Neutrons
  4. Understand the principles of optical spectroscopy with UV-Vis and SPR for materials in solution or thin film form
  5. Understand the principles of vibrational spectroscopy of the molecular structures that make up materials using Infrared and Raman sources
  6. Understand the principles of XPS and XAS elemental spectroscopy
  7. Understand and be able to prepare materials and carry out measurements independently of the measuring instruments that have been studied
  8. Can utilize correctly and precisely material characterization techniques for applications in the field of optoelectronic or magnetic devices
Metode PembelajaranCeramah, eksperimen/demonstrasi di laboratoriumLectures, experiments/demonstrations in the laboratory
Modalitas Pembelajaranluring sinkron, bauran/daring asinkronsynchronous offline, asynchronous mixed/online
Jenis NilaiABCDE
Metode PenilaianTugas, Ujian Tengah Semester, Ujian Akhir SemesterAssignments, Midterm Exams, Final Semester Exams
Catatan TambahanMKPB